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金属氧化物半导体气敏元件测试方法

标 准 号： GB/T 15653-1995
替代情况：
发布单位： 国家技术监督局
起草单位： 电子工业部标准化研究所
发布日期： 1995-07-24
实施日期： 1996-04-01
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更新日期： 2025年09月07日
内容摘要

本标准规定了金属氧化物半导体气敏件性能参数测试方法的基本原理，没有规定这些方法在实际使用时的技术细节，测试时可按相应的详细规范的规定进行。本标准适用于金属氧化物半导体气敏件性能参数的测试，其他气敏件亦可参照使用。

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