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半导体器件集成电路第20部分：膜集成电路和混合膜集成电路总规范第一篇：内部目检要求

标准号： GB/T 43035-2023

替代情况：

发布单位：国家市场监督管理总局国家标准化管理委员会

起草单位：中国电子科技集团公司第四十三研究所、中国电子技术标准化研究院

发布日期： 2023-09-07

实施日期： 2023-09-07

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更新日期： 2023年12月22日

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内容摘要

本文件的目的是检查膜集成电路和混合膜集成电路内部的材料、结构和制造工艺。通常在封帽或包封前进行该项检验，从而找出并剔除带有内部缺陷的器件。这种缺陷会导致器件在正常应用中失效。其他的验收准则应与购买商或供应商商定。

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半导体器件 集成电路 第20部分：膜集成电路和混合膜集成电路总规范 第一篇：内部目检要求

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