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晶体管低频噪声参数测试方法

标 准 号： SJ/T 11765-2020
替代情况：
发布单位： 中华人民共和国工业和信息化部
起草单位： 工业和信息化部电子第五研究所
发布日期： 2020-12-09
实施日期： 2021-04-01
点 击 数：
更新日期： 2022年01月07日
下载地址：点击这里 4.24MB
下载点数：20点（VIP会员免费）
内容摘要

本标准规定了晶体管1Hz～300kHz频率范围内的噪声参数测试方法及要求，适用于双极型晶体管与场效应晶体管，其他晶体管产品可参照执行。

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