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碲镉汞晶体X值的X-射线荧光法测定方法

标 准 号: SJ 20719-1998
替代情况:
发布单位: 中华人民共和国信息产业部
起草单位: 中国电子技术标准化研究所
发布日期: 1998-03-18
实施日期: 1998-05-01
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更新日期: 2025年04月29日
下载地址:点击这里 134.48KB
下载点数:30点(VIP会员免费)
内容摘要

本规范规定了用X-射线荧光法测定碲镉汞晶片的组分X值。本规范适用于X值在0.100~0.350mol范围内的碲镉汞晶片组分X值定量测定。

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