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半导体集成电路ECL电路测试方法的基本原理

标 准 号： SJ/T 10737-1996
替代情况： 替代 GB 3441-82
发布单位： 国家标准局
起草单位：
发布日期： 1996-11-20
实施日期： 1997-01-01
点 击 数：
更新日期： 2024年08月19日
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内容摘要

本标准规定了半导体集成电路ECL电路（以下简称器件）静态参数和动态参数测试方法的基本原理。


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