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光纤试验方法规范 第20部分:尺寸参数的测量方法和试验程序 光纤几何参数

标 准 号: GB/T 15972.20-2008
发布单位: 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
起草单位: 武汉邮电科学研究院
发布日期: 2008-04-10
实施日期: 2008-11-01
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更新日期: 2019年11月18日
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内容摘要

本部分代替GB/T15972.2—1998《光纤总规范 第2部分:尺寸参数试验方法》的第5章、第6章和第8章。本部分为第一次修订,它与GB/T15972.2×其他部分一起代替GB/T15972.2—1998 。本标准规定了测量未涂覆光纤几何参数的试验方法,确立了测量的统一试验程序和技术要求。 本部分适用于对A 类多模光纤和B类单模光纤的测量和成品光纤光缆的商业性检验。 本部分与GB/T15972.2—1998第5章、第6章和第8章相比主要变化如下:
———删除了“折射率剖面法”的提法,将其包括的试验方法直接作为本部分的两种试验方法:方法A:折射近场法,方法B:横向干涉法(1998年版的第5章;本版的附录A、附录B);
———修改了折射近场法对单模光纤聚焦光斑尺寸要求,光斑尺寸改为小于1.5μm(1998年版的第5章;本版的附录A 中A.2.2);
———规定了光纤几何参数的基准试验方法(见本版的第4章);
———对每一种试验方法的特定要求分别用附录的形式给出(1998年版的第5章、第6章、第8章;本版的附录A、附录B、附录C 和附录D)。

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