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光纤试验方法规范 第21部分:尺寸参数的测量方法和试验程序 涂覆层几何参数

标 准 号: GB/T 15972.21-2008
发布单位: 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
起草单位: 武汉邮电科学研究院
发布日期: 2008-03-31
实施日期: 2008-11-01
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更新日期: 2019年11月18日
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内容摘要

本标准规定了测量光纤涂覆层几何参数的试验方法,确立了测量的统一试验程序和技术要求。本部分代替GB/T15972.2—1998《光纤总规范 第2部分:尺寸参数试验方法》第7章、第8章。
本部分与GB/T15972.2—1998第7章、第8章相比主要变化如下:
———原正文中的两种试验方法详细描述分别用附录A 和附录B 的形式给出(1998年版的第7章、第8章;本版的附录A、附录B);
———规定了方法A 为基准试验方法(见本版的第4章);
———规定了方法B也适用于A3类、A4类多模光纤(见本版的表1)。

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